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电工电子学实验箱系列

  • SHYL-D16B 数字电路实验箱
SHYL-D16B 数字电路实验箱

SHYL-D16B 数字电路实验箱

SHYL-D16B 数字电路实验箱

    数字电路实验箱由铝木合金箱体、高性能稳压电源、常用信号源和实验电路区组成。其中实验电路区采用全开放模式,可根据需求灵活配置实验电路,以满足不同层次学生的教学实验要求。

一、数字电路实验箱主要组成       

1、实验电路工作电源:5V/2A一组、±12V/0.7A一组,-1.2V—-12V一组,+1.2V—+27V一组,每路设置保险丝一个,每路均带有短路保护和反向保护电路,其中+5V电源有过压保护、欠压保护和短路报警和自动关断功能,确保实验电路元件和人身安全。

2、常用信号源

1)时序脉冲发生电路,提供顺序脉冲信号。并有二组正负单脉冲发生电路,二组正单脉冲发生电路。

2)0HZ~1MHZ连续可调时钟电路。

3)1HZ~1MHZ固定脉冲分16路输出,1HZ,2HZ,10HZ,100HZ,200HZ,300HZ,400HZ,500HZ,700HZ,800HZ,1KHZ,10KHZ,100KHZ,250KHZ,500KHZ,1MHZ。

    4)10MHZ独立晶振。

5)16路开关量输入显示电路,输入端带保护功能。

6)16路开关量输出电路,输出端自带显示电路,直观显示开关量的输出状态,同时输出端带保护功能。

7)6位七段LED共阴数码显示器,自带BCD码译码电路。

    8)2位独立七段LED共阴数码管显示。

9)2组BCD码拨盘开关输出电路,输出端带保护功能。

10)音响输出控制电路并带有蜂鸣器和喇叭输出设备。

3、测试小工具

1)提供三状态数字逻辑测试电路。

2)设计有导线测试电路一组。

    3)0-50MHz液晶显示频率计一只。

4、实验电路区: 独立电路板设计,和实验信号源完全隔离,防止实验电路区接线时的误操作损坏主机箱。实验电路区配置如下:

1)配置开放式实验区,含IC14圆孔插座5只、IC16圆孔插座4只、IC20圆孔插座3只、IC40锁紧插座2只(兼容IC18-IC40等)。

2)提供8Ω喇叭、蜂鸣器和1×2开关各1个、电位器4个(1k、50K、100k、680K)、多个电阻、电容元件扩展区。

3)还设有多个高可靠锁紧式防转叠插座(与集成块插座、镀银长紫铜管及固定器件等已内部连好)作为实验连接点、测试点,实验接线时,只要拿锁紧插头线相互连接即可。

4) 1个扩展模块电路接入区:尺寸各为155×100mm,可选配固定线路实验模块。学生可以进行创新性练习,以提高学生的思维能力和动手能力。

5主板板材采用2mm厚印制线路板制成,正面印有元器件图形符号和元器件及相应的连线,反面为印刷线路。

6、实验用基础集成电路:74LS00、74LS02、74LS04等22片。

7、实验线路的连接

全部信号引出插孔采用Φ2自锁紧式涂金插孔,**氧化,美观漂亮。实验导线有两种分别为Φ0.5的单股铜芯线(与面包板兼容)和Φ2自锁紧可叠插导线。

8、机箱:坚固型铝合金框架,厚实的 ABS 塑料包角,参考外形尺寸 480×360×148mm。

二、数字电路实验箱独立模块

1)分立元件模块板:板上含电阻10Ω、100Ω、200Ω、470Ω、510Ω、1K、1.2K、1.5K、

4.7K、5.1K、10K、22K、47K、100K、150K、22M;20P、30P、100和100P可调、240P、300P、680P、0.01uF、0.02uF、0.047uF、0.1uF、10uF/16V、47uF/16V、100uF/16V;二极管2AK2、2CK13、2CK15、IN4007;三极管3DG6和3DK2;晶振32768HZ;电位器100K(2个)、47K、15K、10K、1K、330Ω各1个,满足数字电路最基础实验要求。

三、数字电路实验箱实验项目

基础实验

1. 晶体管开关特性、限幅器与钳位器

2. TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

3. CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

4. 集成逻辑电路的连接和驱动

5. 组合逻辑电路的设计与测试

6. 译码器及其应用

7. 数据选择器及其应用

8. 触发器及其应用

9. 计数器及其应用

10. 移位寄存器及其应用

11. 脉冲分配器及其应用

12. 使用门电路产生脉冲信号——自激多谐振荡器

13. 单稳态触发器与施密特触发器——脉冲延时与波形整形电路

14. 555时基电路及其应用

数字电路实验箱扩展实验:

10、CMOS门电路测试实验

11、TS、OC门的功能测试及应用实验

12、TTL不同系列芯片性能和参数的测定实验

13、门电路的驱动能力测试实验

14、逻辑笔实验与分析实验

15、TTL与CMOS相互连接实验

16、MSI加法器实验

17、竞争冒险实验

18、触发器应用实验

19、寄存器及其应用实验

20、计数器MSI芯片的应用

21、时序电路应用实验

22、顺序脉冲和脉冲分配器电路

23、施密特触发器及其应用实验

24、单稳态触发器及其应用实验

25、多路模拟开关及其应用实验

26、数字定时器实验

27、电压变换器实验

28、四路优先判决电路实验


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